整根電纜或電纜試樣在試驗前應置于溫度適當穩定的試驗室內至少12h。如懷疑導體或金屬屏蔽溫度與試驗室溫度不同,則電纜應放在試驗室內24h后再測量電阻。或者可將導體或金屬屏蔽試樣放置在可控溫的恒溫槽內至少1 h后再測量電阻。導體或金屬屏蔽直流電阻應按GB/T3956給出的公式和系數校正到溫度為20"C時1km的數值。對于不是銅或鋁的金屬屏蔽,溫度系數和校正公式應分別從JB/T10181.11--2014的表1和2.1.1取得。校正到20C的導體直流電阻不應超過GB/T3956規定的相應的*大值或申明值。校正到20°C的金屬屏蔽直流電阻不應超過申明值。

絕緣和外護套厚度測量概述試驗方法應按GB/T2951.11--2008第8章的規定,但包覆在皺紋金屬套上的外護套厚度測量應按照10.6.3給出的方法。應從每根選作試驗的電纜的--端(如果必需)截除任何可能受到損傷的部分后,切取--段代表被試電纜的試樣。

對 絕緣的要求此外,包覆在基本光滑表面.上的外護套,其測量值的平均值(mm)按附錄B修約至一位小數,不應小于標稱厚度。

對平均厚度的要求不適用于包覆在不規則表面上的外護套,如包覆在金屬屏蔽線和(或)金屬帶、或皺紋金屬套上的外護套。包覆在皺紋金屬套上的外護套厚度,應采用具有至少一個半徑約為3 mm的球面測頭、精度為士0.01 mm的測微計進行測量。取和測量的步驟如下:a)從成品電纜 上切取包含至少6個波峰和6個波谷的足夠長度的一段外護套試樣,在該外護套試樣的外表面上畫一條平行于電纜軸線的參考線。從外護套試樣的一端截取的-一個圓環上確定*小厚度的位置,以該*小厚度的位置為中點(以前述的參考線輔助定位)、沿著電纜軸線切取寬度約為20mm~40mm的包含了6個波峰和6個波谷的條狀試片。應小心地除去試片上的各種附著物(如防腐涂料);b)在條狀試片_上6個波谷位置(護套較薄處)分別測量每個波谷處的護套*小厚度。6個測量值中*小的一一個即為該皺紋金屬套上的外護套的*小測量厚度。

金屬套厚度測量下列試驗適用于鉛、鉛合金或鋁金屬套電纜。

?窄條法應采用測量面直徑為4 mm~8 mm、精度為士0.01 mm的測微計進行測量。應從成品電纜上切取約50mm長的鉛套試件進行測量。應將試件沿縱向剖開,并小心地展平。在清潔試片后,應沿著鉛套圓周、距試片邊緣不小于10mm處在足夠多的點上測量，以確保測得*小.厚度。

圓環法應采用測微計測量,測微計的兩個測量面,一個為平面,另-一個為球面,或一個為平面,另一個為長2.4mm、寬0.8mm的矩形平面。球面或矩形平面應適合與環的內側面接觸。測微計精度應為士0.01 mm。應從試樣上仔細切取鉛套圓環進行測量。應沿圓環的圓周在足夠多的點上測量,以確保測得*小厚度。